کلمة المفتاح طیف‌سنجی پراش اشعه‌ایکس (XRD) / (2 مقالة)
- الترتيب
- تأريخ
-
1.
كاتب مسؤول : منصورقناعی، محمدحسین ؛
مجلة:پدافند غیر عامل»بهار 1402 - شماره 53 التصنيف ب (Ministry of Science/ISC (10 صفحة - من 1 إلی 10 )
الکلمات المفتاحية:بتن حاوی سیمان پرتلند معمولیمقاومت ضربه‌ایآزمون وزنه افتانمیکروسکوپ‌الکترونی‌روبشی (SEM)طیف‌سنجی پراش اشعه‌ایکس (XRD)
-
2.
مؤلف : منصورقناعی، محمدحسین ؛ مردوخ پور، علیرضا ؛ كاتب مسؤول : بیک لریان، مرتضی ؛
مجلة:پدافند غیر عامل»بهار 1401 - شماره 49 التصنيف ب (Ministry of Science/ISC (10 صفحة - من 47 إلی 56 )
الکلمات المفتاحية:بتن قلیافعالسرباره‌کوره آهن گدازیوزنه افتانطیف سنجی پراش اشعه ایکس (XRD)میکروسکوپ الکترونی‌روبشی (SEM)